Chaosem a komplexitou s profesorem Chuou

Téměř 200 zájemců o současné trendy ve fyzice a elektrotechnice si přišlo dne 8. října na Fakultu elektrotechnickou ČVUT v Praze vyslechnout přednášku prof. Leona O. Chui, jejímž ústředním tématem byl princip komplexity a chování systémů na hranici chaosu.

V rámci své struhující prezentace .Edge of Chaos. hovořil prof. Chua mimo jiné o své práci v oblasti teorie nelineárních obvodů, teorii chaosu a o zajímavých implikacích v technice, přírodě a živých organismech.

"Jsem opravdu rád, že se nám na podařilo uspořádat přednášku takové vědecké kapacity, jako je profesor Chua.", říká děkan Fakulty elektrotechnické ČVUT v Praze prof. Pavel Ripka a dodává: "Jako špičkové vědecko-výzkumné pracoviště sledujeme všechny trendy současného vývoje a skutečnost, že nás prof. Chua navštívil, svědčí o tom, že jméno FEL je dobře známé po celém světě. Prof. Chua v celé své kariéře spojoval roli vynikajícího teoretika i obratného experimentátora. Jeho články jsou klasickou ukázkou inženýrského základního výzkumu. Všichni známe Chuův obvod, první realizaci jednoduchého systému, který produkuje deterministický chaos. Těšili jsme se na návštěvu jeho autora a naše očekávání se naplnila. Prof. Chua je zajímavý člověk s vyhraněnými názory. U nás našel posluchárnu plnou poučených zájemců a tvrdých diskutérů."

Vynálezce elektronického prvku memristoru a autor Chuova obvodu, profesor Leon O. Chua, vystudoval v roce 1959 Mapua Institute of Technology na Filipínách. Po své emigraci do Spojených států získal prestižní stipendium na Massachusetts Institute of Technology, kde získal titul MSEE v roce 1961. O tři roky později získal na University of Illinois doktorát za práci na téma Nelineární obvodové analýzy. V letech 1964 . 1970 působil prof. Chua na univerzitě v Purdue, od roku 1971 přednáší na University of California v Berkeley. V současné době působí jako Marie Curie fellow na Imperial College v Londýně. Během své kariéry získal osm čestných doktorátů.

Profesor Leon O. Chua navštívil Prahu jako účastník 11. ročníku European Conference on Non Destructive Testing (ECNDT).

Za obsah odpovídá: