Popis předmětu - XP13SSD

Přehled studia | Přehled oborů | Všechny skupiny předmětů | Všechny předměty | Seznam rolí | Vysvětlivky               Návod
XP13SSD Speciální metody stanovení jakosti součástek
Role:S Rozsah výuky:2P+2L
Katedra:13113 Jazyk výuky:CS
Garanti:Papež V. Zakončení:Z,ZK
Přednášející:Papež V. Kreditů:4
Cvičící:Papež V. Semestr:Z

Anotace:

Kontrola základních veličin určujících jakost pasivních a aktivních součástek. Metodika měření, jejich vyhodnocení, identifikace systematických chyb. Popis měřené součástky náhradním obvodem, čtyřpólové parametry součástky. Základní vlastnosti obvodů s rozloženými parametry. Přizpůsobení součástky v měřicím obvodu. Šum elektronických obvodů, šumové parametry, šumové a výkonové přizpůsobení. Nelinearita "lineárních" obvodů, intermodulační zkreslení, měření nelinearity a intermodulací.

Cíle studia:

Studenti budou seznámeni s metodikou kontroly parametrů pasivnich a aktivnich elektronických součástek

Obsah:

Kontrola základních veličin určujících jakost pasivních a aktivních součástek. Metodika měření, jejich vyhodnocení, identifikace systematických chyb. Popis měřené součástky náhradním obvodem, čtyřpólové parametry součástky. Základní vlastnosti obvodů s rozloženými parametry. Přizpůsobení součástky v měřicím obvodu. Šum elektronických obvodů, šumové parametry, šumové a výkonové přizpůsobení. Nelinearita "lineárních" obvodů, intermodulační zkreslení, měření nelinearity a intermodulací.

Osnovy přednášek:

1. Úvod, metodika měření, analýza chyb
2. Měření napětí a přenosu
3. Ekvivalentní obvody, čtyřpólové pólové parametry
4. Komplexní měření impedance
5. Přizpůsobení v sítích
6. Distribuované obvody parametrů
7. Přenosové vedení
8. Šum v obvodech elektroniky, parametry šumu
9. Přizpůsobení pro maximální zisk a minimální šum
10. Měření šumu
11. Nelinearita nominálně lineárních elektronických komponent
12. Intermodulační zkreslení
13. Měření nelinearity a intermodulace
14. Měření elektromagnetické kompatibility

Osnovy cvičení:

1. Bezpečnost v laboratoři, seznámení s úlohami 1. skupiny
2. Nelinearita a šum rezistorů
3. Přizpůsobebí výkonového zesilovače
4. VF přizpůsobovací obvody
5. Měření šumového čísla
6. Přizpůsobení v obvodech pro měření šumu
7. Seznámení s úlohami skupiny 2
8. Měření intermodulačního zkreslení
9. Měření nelinearity lineárních součástek
10. Transformátory a filtry s rozloženými parametry
11. Měření nelinearity lineárních součástek
12. Rorptylové parametry aktivního dvojbranu
13. Stabilita měřicího obvodu
14. Vyhodnocení referátů, zápočet

Literatura:

[1] Detlefsen, J. ; Siart, U.: Grundlagen der Hochfrequenztechnik. München: Oldenbourg, 2012
[2] Zinke, Brunswig, Lehrbuch der Hochfrequenztechnik, 3. Auflage, Springer-Verlag, Berlin 1986

Požadavky:

Pro získání zápočtu se student účastní seminářů, odevzdá protokol z jedné laboratorní úlohy a získá minimálně 50 % z maximálního množství hodnotících bodů v testech

Webová stránka:

/education/bk/predmety/11/85/p11850504.html

Klíčová slova:

elektronické součástky, kvalita elektronických součástek

Předmět je zahrnut do těchto studijních plánů:

Plán Obor Role Dop. semestr
DOKP Před zařazením do oboru S
DOKK Před zařazením do oboru S


Stránka vytvořena 30.11.2020 17:50:52, semestry: L/2021-2, Z,L/2020-1, L/2019-20, Z/2021-2, připomínky k informační náplni zasílejte správci studijních plánů Návrh a realizace: I. Halaška (K336), J. Novák (K336)
Za obsah odpovídá: doc. Ing. Ivan Jelínek, CSc.