ČeskyEnglish

Popis předmětu - B3M38DIT

Přehled studia | Přehled oborů | Všechny skupiny předmětů | Všechny předměty | Seznam rolí | Vysvětlivky               Návod
B3M38DIT Diagnostika a testování Rozsah výuky:3p+2l
Garanti:Šmíd R. Role:P,PV Zakončení:Z,ZK
Vyučující:Šmíd R.
Zodpovědná katedra:13138 Kreditů:7 Semestr:L

Anotace:

Předmět poskytuje úvod do problematiky detekce poruch, odolnosti proti poruchám, sledování provozního stavu zařízení, vibrodiagnostiky, nedestruktivního testování a diagnostiky elektronických zařízení s analogovými a číslicovými obvody.

Osnovy přednášek:

1. Diagnostika, prognostika, životní cyklus
2. Modely poruch, detekce pomocí modelů signálů/objektů
3. Spolehlivost
4. Odolnost vůči poruchám, statická/dynamická/analytická redundance, FMEA/FMECA
5. Hodnocení diagnostických metod (POD)
6. Zdroje a analýza diagnostických signálů, předzpracování
7. Obálková, kepstrální, řádová analýza, analýza nestacionárních signálů
8. Diagnostika mechanických, elektrických a elektromechanických systémů
9. Diagnostika pomocí impulsní a spojité akustické emise
10. Nedestruktivní testování, detekce a lokalizace
11. Nedestruktivní testování ultrazvukem, vířivými proudy, aktivní termografie
12. Testování analogových a číslicových obvodů, produkční diagnostika
13. In-circuit metody, Built-in Self Test, Design for Test
14. Navrhování testů, maskování, komprese testů. Boundary Scan
Součástí laboratorních cvičení bude samostatný projekt, zakončený prezentací nebo zprávou. Úspěšná obhajoba bude spolu se dvěma testy podmínkou zápočtu.

Osnovy cvičení:

Laboratorní cvičení v první části demonstrují funkce vybraných diagnostických nástrojů, v druhé části je řešena samostatná úloha na vybrané téma z oblasti technické diagnostiky a testování. Součástí laboratorních cvičení bude samostatný projekt, zakončený prezentací nebo zprávou. Úspěšná obhajoba bude spolu se dvěma testy podmínkou zápočtu.

Literatura:

Základní:
[1] R. Isermann: Fault-Diagnosis Systems, Springer Verlag, 2006.
Doporučené:
[2] Ch. Hellier: Handbook of Nondestructive Evaluation, McGraw-Hill 2012.
[3] M. L. Bushnell, V.D. Agrawal: Essentials of Electronic Testing for Digital, Memory, and Mixed-Signal VLSI Circuits, Springer, Boston, 2005.
(knihy nejsou vyprodány, zajistíme do knihovny)

Požadavky:

Webová stránka:

https://moodle.fel.cvut.cz/courses/B3M38DIT

Předmět je zahrnut do těchto studijních plánů:

Plán Obor Role Dop. semestr
MPEK3_2016 Elektronika PV 2
MPKYR3_2016 Systémy a řízení P 2
MPKYR1_2016 Robotika P 2
MPKYR5_2016 Kybernetika a robotika P 2
MPKYR2_2016 Senzory a přístrojová technika P 2
MPKYR4_2016 Letecké a kosmické systémy P 2


Stránka vytvořena 21.8.2017 07:47:11, semestry: L/2016-7, Z,L/2017-8, Z/2018-9, připomínky k informační náplni zasílejte správci studijních plánů Návrh a realizace: I. Halaška (K336), J. Novák (K336)
Za obsah odpovídá: doc. Ing. Ivan Jelínek, CSc.