Fakulta elektrotechnická

České vysoké učení technické v Praze

ČVUT v Praze

Popis předmětu - BE3M38DIT

Přehled studia | Přehled oborů | Všechny skupiny předmětů | Všechny předměty | Seznam rolí | Vysvětlivky               Návod
BE3M38DIT Diagnostics and Testing Rozsah výuky:3p+2l
Garanti:Šmíd R. Role:PO,P,V Zakončení:Z,ZK
Vyučující:Šmíd R.
Zodpovědná katedra:13138 Kreditů:7 Semestr:L

Anotace:

The course introduces the fundamentals of the fault-detection, fault tolerance, machine condition monitoring, vibrations based diagnostics, non-destructive testing and testing of analog and digital circuits.

Osnovy přednášek:

1. Diagnostics, prognostics, life cycle
2. Fault modelling, signal/model based fault detection
3. Reliability
4. Fault tolerance, static/dynamic/analytical redundancy, FMEA, FMECA
5. Performance evaluation of diagnostic methods (POD)
6. Diagnostic signal sources and analysis, preprocessing
7. Envelope, cepstral, order analysis, analysis of non-stationary signal
8. Diagnostics of mechanical, electrical and electromechanical systems
9. Diagnostics based on impulse and continuous acoustic emission
10. Non-destructive Testing (NDT), Detection and Localization
11. Ultrasonic NDT, Eddy Current NDT, active thermography
12. Testing of analog and digital circuits, production testing
13. In-circuit Testing, Built-in Self Test, Design for Test
14. Test generation, fault masking, test compression, boundary scan

Osnovy cvičení:

1. Introduction to Diagnostics, Course Information, Schedule, Lab Practice and Electrical Safety
2. Laboratory Experiment:Fault detection using thermography
3. Laboratory Experiment: Vibrodiagnostics of shaft/gearbox
4. Laboratory Experiment: Eddy Current Non-destructive Testing
5. Laboratory Experiment: Ultrasonic Non-destructive Testing
6. Quiz, Assignment of Individual Project
7. Individual Project
8. Individual Project
9. Individual Project
10. Individual Project
11. Individual Project
12. Individual Project
13. Individual Project
14. Presentation of Individual Project, Assessment

Literatura:

[1] R. Isermann: Fault-Diagnosis Systems, Springer Verlag, 2006.
Optional:
[2] Ch. Hellier: Handbook of Nondestructive Evaluation, McGraw-Hill 2012.
[3] M. L. Bushnell, V.D. Agrawal: Essentials of Electronic Testing for Digital, Memory, and Mixed-Signal VLSI Circuits, Springer, Boston, 2005.

Požadavky:

Předmět je zahrnut do těchto studijních plánů:

Plán Obor Role Dop. semestr
MEEK1_2016 Komunikační systémy a sítě V
MEKYR1_2016 Robotika P 2
MEKYR5_2016 Kybernetika a robotika P 2
MEKYR4_2016 Letecké a kosmické systémy P 2
MEKYR3_2016 Systémy a řízení P 2
MEKYR2_2016 Senzory a přístrojová technika P 2
MEEK3_2016 Elektronika PO 2
MEEK2_2016 Radiová a optická technika V
MEEK4_2016 Audiovizuální technika a zpracování signálů V


Stránka vytvořena 17.11.2017 17:47:23, semestry: L/2016-7, Z,L/2017-8, Z/2018-9, připomínky k informační náplni zasílejte správci studijních plánů Návrh a realizace: I. Halaška (K336), J. Novák (K336)
Za obsah odpovídá: doc. Ing. Ivan Jelínek, CSc.