Popis předmětu - XP34TOS

Přehled studia | Přehled oborů | Všechny skupiny předmětů | Všechny předměty | Seznam rolí | Vysvětlivky               Návod
XP34TOS Technologie optoelektronických součástek
Role:S Rozsah výuky:2P+2C
Katedra:13134 Jazyk výuky:CS
Garanti:Prajzler V. Zakončení:ZK
Přednášející:Jeřábek V., Prajzler V. Kreditů:4
Cvičící:Prajzler V. Semestr:Z,L

Webová stránka:

https://moodle.fel.cvut.cz/enrol/index.php?id=2991

Anotace:

Příprava materiálů a struktur: metody diagnostiky a kontoroly. Technologie prvků a integrovaných struktur: dvojitá hetrerostruktura, QW struktura, vlnovody a systémy, příprava zdrojů a detektorů. Dielektrické planární vlnovody: materiály, příprava, vlastnosti. Dielektrické vlnovod. struktury pro distribuci a ovládání záření.

Cíle studia:

Předmět se zabývá moderními materiály a technologiemi pro fotonické součástky a struktury. Předmět poskytne, také informace o základní optice a fotonice a zaměřuje se na nové moderní vlnovodné struktury. Předmět zahrnuje teorii optických planárních a vláknových vlnovodů, periodické struktury v optických vlnovodech, struktury s multimodovou interferencí, optické mikrorezonátory jejich koncepty a aplikace.

Obsah:

Optoelektronika, Fotonika, Optické materiály, Technologie

Osnovy přednášek:

1. Příprava optoelektronických materiálů a struktur
2. Diagnostické a testovací metody
3. Návrh a příprava dvojitých heterostruktur
4. Příprava polovodičových vlnovodů
5. Příprava LED, laserů, fotorezistorů
6. Příprava QW struktur
7. Návrh dielektrických vlnovodových struktur
8. Příprava dielektrických vlnovodových struktur
9. Návrh a příprava struktur pro distribuci optického záření
10. Návrh a příprava struktur pro ovládání optického záření
11. Měřicí metody
12. Testovací metody
13. Příklady polovodičových struktur
14. Příklady dielektrických struktur

Osnovy cvičení:

1. RSOFT úvod
2. RSOFT návrh základních struktur
3. RSOFT návrh - individuální projekt
4. RSOFT návrh - individuální projekt
5. OPTICAD úvod
6. OPTICAD návrh - individuální projekt
7. Technologie pro fotonické aplikace
8. Litohrafické procesy
9. technologie pro tenké vrstvy a nanostruktury
10. Měřící metody - 3D konfokální ramanův spektrometr
11. Měřící metody - tmavá vidová spektroskopie
12. Měřící metody - měření optického pole
13. Měřící metody - optický spektrální analyzátor
14. Prezenatce semestrálních prací

Literatura:

S. O. Kasap, Ruda Harry E., B. Yann: Cambridge illustrated handbook of optoelectronics and photonics, Cambridge : Cambridge University Press, 2009. ISBN: 978-0-521-81596-3
G. T. Reed: Silicon on Photonics, John Wiley&Sons Ltd 2008.
P. N. Prasad: Nanophotonics, Wiley-Interscience, 2004.
J. Hongrui, Z. Xuefeng: Microlenses : properties, fabrication and liquid lenses. Boca Raton : CRC Press, 2013. ISBN: 978-1-4398-3669-9.
S. Shōichi, O. Katsunari: New photonics technologies for the information age : the dream of ubiquitous services. Boston : Artech House, 2004. ISBN: 1-58053-696-4.
L. Pavesi, D.J. Lockwood: Silicon Photonics, Springer-Verlag Berlin Heidelberg 2004.

Požadavky:

Pro úspěšné ukončení předmětu je nutné odevzdat semestrální práci a složení zkoušky, která se bude skládat s písemné a ústní části.

Klíčová slova:

Optoelektronika, Fotonika, Optické materiály, Technologie

Předmět je zahrnut do těchto studijních plánů:

Plán Obor Role Dop. semestr
DOKP Před zařazením do oboru S
DOKK Před zařazením do oboru S


Stránka vytvořena 28.3.2024 17:52:19, semestry: Z,L/2023-4, Z/2024-5, připomínky k informační náplni zasílejte správci studijních plánů Návrh a realizace: I. Halaška (K336), J. Novák (K336)