Popis předmětu - B3M38DIT

Přehled studia | Přehled oborů | Všechny skupiny předmětů | Všechny předměty | Seznam rolí | Vysvětlivky               Návod
B3M38DIT Diagnostika a testování
Role:P Rozsah výuky:3P+2L
Katedra:13138 Jazyk výuky:CS
Garanti:Šmíd R. Zakončení:Z,ZK
Přednášející:Šmíd R. Kreditů:7
Cvičící:Drozd S., Šmíd R., Tereň O. Semestr:L

Webová stránka:

https://moodle.fel.cvut.cz/courses/B3M38DIT

Anotace:

Předmět poskytuje úvod do problematiky detekce poruch, odolnosti proti poruchám, sledování provozního stavu zařízení, vibrodiagnostiky, nedestruktivního testování a diagnostiky elektronických zařízení s analogovými a číslicovými obvody.

Osnovy přednášek:

1. Diagnostika, prognostika, životní cyklus
2. Modely poruch, detekce pomocí modelů signálů/objektů
3. Spolehlivost
4. Odolnost vůči poruchám, statická/dynamická/analytická redundance, FMEA/FMECA
5. Hodnocení diagnostických metod (POD)
6. Zdroje a analýza diagnostických signálů, předzpracování
7. Obálková, kepstrální, řádová analýza, analýza nestacionárních signálů
8. Diagnostika mechanických, elektrických a elektromechanických systémů
9. Diagnostika pomocí impulsní a spojité akustické emise
10. Nedestruktivní testování, detekce a lokalizace
11. Nedestruktivní testování ultrazvukem, vířivými proudy, aktivní termografie
12. Testování analogových a číslicových obvodů, produkční diagnostika
13. In-circuit metody, Built-in Self Test, Design for Test
14. Navrhování testů, maskování, komprese testů. Boundary Scan
Součástí laboratorních cvičení bude samostatný projekt, zakončený prezentací nebo zprávou. Úspěšná obhajoba bude spolu se dvěma testy podmínkou zápočtu.

Osnovy cvičení:

Laboratorní cvičení v první části demonstrují funkce vybraných diagnostických nástrojů, v druhé části je řešena samostatná úloha na vybrané téma z oblasti technické diagnostiky a testování. Součástí laboratorních cvičení bude samostatný projekt, zakončený prezentací nebo zprávou. Úspěšná obhajoba bude spolu se dvěma testy podmínkou zápočtu.

Literatura:

Základní:
[1] R. Isermann: Fault-Diagnosis Systems, Springer Verlag, 2006.
Doporučené:
[2] Ch. Hellier: Handbook of Nondestructive Evaluation, McGraw-Hill 2012.
[3] M. L. Bushnell, V.D. Agrawal: Essentials of Electronic Testing for Digital, Memory, and Mixed-Signal VLSI Circuits, Springer, Boston, 2005.
(knihy nejsou vyprodány, zajistíme do knihovny)

Požadavky:

Předmět je zahrnut do těchto studijních plánů:

Plán Obor Role Dop. semestr
MPKYR3_2016 Systémy a řízení P 2
MPKYR5_2016 Kybernetika a robotika P 2
MPKYR4_2016 Letecké a kosmické systémy P 2
MPKYR2_2016 Senzory a přístrojová technika P 2
MPKYR1_2016 Robotika P 2


Stránka vytvořena 28.3.2024 17:52:19, semestry: Z,L/2023-4, Z/2024-5, připomínky k informační náplni zasílejte správci studijních plánů Návrh a realizace: I. Halaška (K336), J. Novák (K336)