Přehled studia | Přehled oborů | Všechny skupiny předmětů | Všechny předměty | Seznam rolí | Vysvětlivky               Návod
37RAM Radioelektronická měření Rozsah výuky:2+2
Přednášející (garant):Horevaj M. Typ předmětu:S Zakončení:Z,ZK
Zodpovědná katedra:337 Kreditů:4 Semestr:L

Anotace:
Cílem přednášek je vysvětlit základní měřicí metody, jichž se používá při laborování, testování a kalibraci ve vysokofrekvenční analogové i číslicové technice. Kromě měřicích metod je též věnována pozornost moderním vf přístrojům a systémům pro automatizovaná měření. Cvičení je zaměřeno na praktickou vf laboratorní techniku.

Osnovy přednášek:
1. Laboratorní technika, rušení, stínění, zemnění, nežádoucí vazby
2. Rezonanční měřicí metody, měření Q, měření param. cívek a vf transformátorů
3. Měření elektrických parametrů prvků v obvodech se soustředěnými parametry
4. Měření v obvodech s rozlož. parametry, časová reflektometrie
5. Měření v obvodech s optickými vlákny, útlum, rozptyl, reflektometrie
6. Měření vf parametrů náhradního obvodu aktivních součástí
7. Měření vf napětí, proudu, detektory, selektivní a vektorové metody
8. Měření vf výkonu, průchozí výkon, chyby nepřizpůsobení
9. Měření intenzity elektromagnetického pole, sondy, antény, prostory
10. Měření parametrů signálů, modulace, zkreslení, spekter, šumu
11. Měření v obvodech digitální komunikace, jitter, chybovost, vektorové analyzátory
12. Měření kmitočtu, čas. intervalu, distribuce normál. kmitočtu -TV,GPS
13. Technika kalibrace, vysokofrekvenční normály, mezinárodní návaznost
14. Automatizované systémy měření, programové prostředky, sběrnice

Osnovy cvičení:
1. Zásady laboratorní práce, deník, zpracování výsledků, bezpečnost
2. Měření parametrů vf obvodů rezonanční metodou (Q, L, R, C, M, tgd)
3. Experiment na měrném vedení, činitel odrazu, PSV, činitel zkrácení
4. Měření parametrů náhradního obvodu krystalového rezonátoru
5. Vektorová měření v obvodech s rozloženými parametry, přizpůsobení
6. Měření rozptylových parametrů vf tranzistorů (s11, s12, s21, s22)
7. Experiment s RC oscilátorem (zkreslení, stabilita amplitudy, frekvence)
8. Experiment s antialiasingovým filtrem, návrh, realizace, měření
9. Přesné měř. frekv. (krátkod. a dlouhodobá stabil., doba náběhu, teplotní stab.)
10. Měření parametrů signálů osciloskopickými metodami
11. Měření parametrů modulovaných signálů spektrálním analyzátorem
12. Měření parametrů náhradního obv. pasivních vf součástek, frekvenční závislosti
13. Měření mikrovlnných součástí v pásmu 10 GHz, izolátor, cirkulátor, směr. vazba
14. Závěrečné hodnocení, kontrolní měření, zápočty

Literatura Č:
[1] Moravec: Radioelektronická měření. Skripta ČVUT, Praha 1992 (3.vyd.)
[2] Witte, R.A.: Electronic Test Instruments - Theory and Applications. Englewood Cliffs, NJ07632, Prentice Hall PTR, 1991

Literatura A:
[1] Witte, R.A.: Electronic Test Instruments - Theory and Applications. Englewood Cliffs, NJ07632, Prentice Hall PTR, 1991

Požadavky:

Rozsah výuky v kombinované formě studia: 14+4
Charakter cvičení: l

Předmět je zahrnut do těchto studijních plánů:
Plán Obor Role Dop. semestr
*DBEB Elektronika a sdělovací technika S 6
*DBE Elektronika a sdělovací technika S 6


Stránka vytvořena 25. 2. 2002, semestry: Z/2001-2, Z/2002-3, L/2001-2, L/2002-3, připomínky k informační náplni zasílejte správci studijních plánů Návrh a realizace: I. Halaška (K336), J. Novák (K336)