1. | | Charakteristiky vf měř. systémů, souměrné, nesouměrné, v-v impedance, přizpůsobení |
2. | | Rušivé signály v měř. systémech, nežádoucí vazby, stínění, zemnění, propojování |
3. | | Komponenty vf měř. systémů, náhradní obvody, rezonátory, proměnné prvky, vedení |
4. | | Měření vf parametrů aktivních prvků, y,s,h-parametry, mezní frekvence, výkonový zisk |
5. | | Měření vf napětí, převodníky, širokopásmové a selektivní voltmetry, Q-špič., RMS, stř. |
6. | | Měření vf výkonu, průchozí výkon, metody kalorimetrické, bolometrické, senzory |
7. | | Referenční zdroje měřicích signálů, cesiový, vodíkový, rubidiový, krystalový standard |
8. | | Měření kmitočtu a časových intervalů, rozšíření frekv. pásma, chyby čítačů, kalibrace |
9. | | Analyzátory signálů v časové doméně, analogové a digitální osciloskopy |
10. | | Spektrální analyzátory, rozmítané, FFT, měření modulačních charakteristik a spekter |
11. | | Obvodové analyzátory, skalární, vektorové, kalibrace zkratem, čtyř-svorkové propojení |
12. | | Zdroje měřicích signálů, harmonické, funkční a šumové generátory, optické zdroje |
13. | | Základní měření EMC, testovací signály, umělé sítě, měřicí prostory |
14. | | Standardizace a automatizace měřicích systémů, rozhraní, programové vybavení |
1. | | Rezonanční měřicí metody |
2. | | Koaxiální komparátory a měrná vedení |
3. | | Měření náhradního obvodu krystalového rezonátoru |
4. | | Měření impedančním analyzátorem |
5. | | Měření harmonického zkreslení |
6. | | Měření modulačních charakteristik AM, FM |
7. | | Test, hodnocení, náhradní a kontrolní měření |
8. | | Měření parametrů vf tranzistorů |
9. | | Měření spektrálních charakteristik |
10. | | Měřicí detektory, obálkový, špičkový, RMS, fázový |
11. | | Měření kmitočtu, konverze, stabilita |
12. | | Analýza signálů v časové doméně |
13. | | Měření charakteristik EMC, vyzařování do sítě, rušení |
14. | | Kontrolní měření, zápočty |